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走査型電子顕微鏡(SEM)

試料に電子線を照射し、試料表面から発生する二次電子を検出することで材料の表面構造を観察する装置です。光学顕微鏡では観察できないレベルの微細構造を、立体感のある画像として観察することができます。

 

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Category: 顕微鏡観察

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